表麵元素分析 材料檢測中心
概述
對於(yu) 樣品表麵的一些化學信息較為(wei) 關(guan) 注時,會(hui) 采用表麵分析技術,目前表麵分析涉及到的儀(yi) 器有掃描電鏡-能譜儀(yi) (SEM-EDS),X射線光電子能譜儀(yi) (XPS),俄歇電子能譜儀(yi) (AES)等。掃描電鏡-能譜儀(yi) (SEM-EDS)可以對樣品表麵形貌觀察,表麵元素分析,截麵形貌觀察,截麵元素分析等,分析深度一般為(wei) 微米(10-6m)級別。X射線光電子能譜儀(yi) (XPS)和俄歇電子能譜儀(yi) (AES)可對樣品進行表麵元素分析,表麵縱向元素分析,表麵元素價(jia) 態分辨,分析深度通常為(wei) 納米(10-9m)級別。
同位素分析測試儀(yi) 器
加速質譜儀(yi) 13C、15N、18O、D氚
穩定同位素質譜儀(yi) 6LI、10B同位素
電感耦合等離子質譜儀(yi)
放射性元素檢測
項目類別元素
天然放射性核素限量鐳-226,釷-232,鉀-40,鈾-238
γ輻射劑量率
總輻射量
水質放射性
總α,總β
檢測儀(yi) 器
電感耦合等離子體(ti) 發射光譜儀(yi) (ICP-OES) 電感耦合等離子體(ti) 質譜ICP-MS
波長型X射線熒光光譜儀(yi) (XRF) 能量散射型X射線熒光光譜儀(yi) (EDX)
有機元素分析儀(yi) 掃描電子顯微鏡X射線能譜儀(yi) (SEMEDS)
紫外/可見光分光光度計(UV) 原子吸收分光光度計(AAS)
原子發射分光光度計(AES) 離子色譜
直讀光譜儀(yi) CS分析儀(yi)
檢測標準
GB/T 17418.7-2010 地球化學樣品中貴金屬分析方法 第7部分:鉑族元素量的測定
YS/T 372.1-2006 貴金屬合金元素分析方法 銀量的測定
YS/T 372.2-2006 貴金屬合金元素分析方法 鉑量的測定
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