跌落測試

本測試通常是主要用來模擬產(chan) 品在搬運期間可能受到的自由跌落，考察產(chan) 品抗意外衝(chong) 擊的能力。通常跌落高度大都根據產(chan) 品重量以及可能掉落機率做為(wei) 參考標準，落下表麵應該是混凝土或鋼製成的平滑、堅硬的剛性表麵（如有特殊要求應以產(chan) 品規格或客戶測試規範來決(jue) 定）。

對於(yu) 不同國際規範即使產(chan) 品在相同重量下但掉落高度也不相同，對於(yu) 手持型產(chan) 品（如手機， MP3等）大多數掉落高度大都介於(yu) 100cm ~ 150cm不等，IEC對於(yu) ≦2kg之手持型產(chan) 品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為(wei) 122cm，Intel對手持型產(chan) 品（如手機）則建議落下高度為(wei) 150cm。試驗的嚴(yan) 苛程度取決(jue) 於(yu) 跌落高度、跌落次數、跌落方向。

對於(yu) 不同國際規範即使產(chan) 品在相同重量下但掉落高度也不相同，對於(yu) 手持型產(chan) 品（如手機， MP3等）大多數掉落高度大都介於(yu) 100cm ~ 150cm不等，IEC對於(yu) ≦2kg之手持型產(chan) 品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為(wei) 122cm，Intel對手持型產(chan) 品（如手機）則建議落下高度為(wei) 150cm。試驗的嚴(yan) 苛程度取決(jue) 於(yu) 跌落高度、跌落次數、跌落方向。

80%的電子產(chan) 品損壞大都來源於(yu) 跌落碰撞，研發人員往往耗費大量的時間和成本，針對產(chan) 品做相關(guan) 的質量試驗，最常見的結構試驗就是跌落與(yu) 衝(chong) 擊試驗。

利用跌落測試在產(chan) 品開模前，對其進行相關(guan) 的模擬仿真可以很好地解決(jue) 以上問題。相對於(yu) 傳(chuan) 統的試驗方法，跌落測試對其進行虛擬仿真具有如下明顯的優(you) 點：

1.減少試驗次數和試驗成本。

2.可以直觀動態地顯示整個(ge) 跌落碰撞過程各種物理量的變化。

3.不僅(jin) 可以觀察產(chan) 品的外部特性和現象，而且能觀察產(chan) 品的內(nei) 部特征及現象。

4.邊界條件方便控製，仿真的可重複性好。

5.設計初期進行模擬可及早發現產(chan) 品的特性，並減少問題的發生。